著者名	針山孝彦、村上勝久
論文表題	FIB-SEMによるデンプン顆粒内空洞の観察
雑誌名	Nanotech Japan Bulletin（8巻 　1号 ）
発行年月	2015年 3月
ページ	p.0～
DOI	DOI:

一覧に戻る

※より詳細な情報を閲覧される方はこちらからログインしてください。